- Correo electrónico
- Teléfono
-
Dirección
Habitación 707, edificio aiqian, 599 Lingling road, Distrito de xuhui, shanghai, China
Miembros
¿¿ qué?Ayuda
¿¿ qué?Shanghai nateng Instrument co., Ltd.
Habitación 707, edificio aiqian, 599 Lingling road, Distrito de xuhui, shanghai, China
I,Introducción
Principio de medición- -Reflejo espectral
EspectroPolarímetro elípticoTanto (se) como el reflector espectral (sr) utilizan la luz reflejada analítica para determinar el grosor yíndice de refracciónLa principal diferencia entre los dos es que el elipsometro mide un ángulo pequeño desdePelícula delgadaLa luz reflejada, mientras que el reflector espectral mide la luz reflejada verticalmente desde la película. El reflector espectral mide la luz vertical, que ignora el efecto de polarización (la gran mayoría de las películas son simétricas en rotación). Debido a que no implica ningún dispositivo móvil, el reflector espectral se convierte en un instrumento simple y de bajo costo. El reflector espectral se puede integrar fácilmente para agregar un análisis de transmisión de luz más potente. El reflector espectral suele ser la primera opción con un espesor de película superior a 10 um, mientras que el elipsometro se centra en un espesor de película más delgado que 10 nm. Entre 10 nm y 10 um de espesor, ambas tecnologías están disponibles. Y los espectrómetros con características rápidas, simples y de bajo costo suelen ser una mejor opción.

En segundo lugar,Funciones principales
lPrincipales aplicaciones
Medir la tasa de depósito, el espesor de la capa de depósito, las constantes ópticas (valores n y k) y la uniformidad de los semiconductores y la capa dieléctrica
- película lisa y translúcida
- película absorbente leve
- medición del espesor de la película en tiempo real

lCapacidad técnica
Rango de longitud de onda espectral: 380 - 1050 nm
Rango de medición del espesor:15nm-70
μm
Aumentar enormemente la productividad
Bajo coste: se recuperan los costes en unos meses
Precisión a: precisión de medición superior a ± 1%
Rápido: segundos para completar la medición
No invasivo: prueba completamente fuera de la Cámara de depósito
Fácil de usar: ventanas intuitivas ™ Software
Un sistema que se puede preparar en unos minutosEn tercer lugar,
Aplicación
Fabricación de semiconductores: fotorresistentes, óxidos, Nitruro
Pantalla de cristal líquido: brecha de cristal líquido, película protectora de poliimida, óxido metálico de indio y estaño nanométrico
Biomedicina original: recubrimiento de polímero / P - xileno, Biopelícula / espesor de la bola de burbujas, Stent recubierto con medicamentos
Sistema microelectromecánico: película de silicio, filtro de película de nitruro de aluminio / óxido de zinc