Park Systems Parker High Vacuum Atomic Force Microscopy NX - hivac

Park NX - hivac mejora la sensibilidad de la medición y la repetibilidad de las mediciones por microscopía de fuerza atómica proporcionando un entorno de alto vacío para ingenieros de análisis de fallas. Con ambiente general o n seco₂En comparación con las condiciones, la medición de alto vacío tiene las ventajas de alta precisión, buena repetibilidad y bajo daño en la punta de la aguja y la muestra, por lo que el usuario puede medir muchas respuestas de señal en diversas aplicaciones de análisis de fallas, como la concentración de impurezas en la microscopía de resistencia a la difusión de escaneo (ssrm).

Park

El NX - hivac aleja la investigación científica de materiales medidos en ambientes de vacío a altas temperaturas y alta resolución de los efectos del oxígeno y otros agentes.

La realización de la medición de la microscopía de resistencia a la difusión de escaneo en condiciones de alto vacío puede reducir la fuerza de interacción punta - muestra necesaria, reduciendo así considerablemente el daño a la muestra y la punta. Esto puede prolongar la vida útil de cada punta, hacer que el escaneo sea más barato y conveniente, y obtener resultados más *, mejorando la resolución espacial y la relación señal - ruido. Por lo tanto, la medición de la microscopía de resistencia a la difusión de escaneo de alto vacío con NX - hivac puede describirse como una opción inteligente para que los ingenieros de análisis de fallas aumenten su rendimiento, reduzcan costos y mejoren la precisión.Park Hivac

Gestor

Control automático de vacío NX - hivac

El gestor hivac logra un alto vacío haciendo clic para controlar lógicamente y visualmente el proceso de extracción y escape de * buenas condiciones de vacío. Cada proceso se monitorea intuitivamente a través de cambios de color e ilustración, y después de hacer clic con un solo clic, puede prescindir de preocuparse por el orden de operación del vacío. Un software de control de vacío más rápido y fácil hace que el uso del microscopio de fuerza atómica sea más conveniente y eficiente.

Características de la misma automatización

NX - hivac tiene una gran cantidad de funciones que pueden * reducir en gran medida la entrada del usuario. En otras palabras, puede escanear más rápido y aumentar la producción de laboratorio.Equipado con una plataforma de carga controlada electrónicamenteStepScan

Escaneo automatizado

Stepscan permite a los usuarios programar dispositivos para imágenes multirregionales rápidas y convenientes desde su implementación. NX - hivac le permite completar el escaneo de la muestra en solo cinco pasos: escaneo, elevación del voladizo, plataforma eléctrica móvil al área de coordenadas definida por el usuario, entrada de aguja y escaneo repetido. Esto puede aumentar enormemente la productividad y reducir en gran medida la entrada de los usuarios.

Alineación láser eléctrica

La alineación láser eléctrica Park permite a los usuarios conectarse sin problemas a las rutinas de medición automatizadas sin entrada. Con nuestro avanzado marco de voladizo precontaminación, el láser se ha alineado con el voladizo al reemplazar la sonda. Solo es necesario ajustar la perilla de posicionamiento para localizar arbitrariamente los puntos de luz láser en los ejes X e y para lograr una buena posición.

Mejorar la precisión y la productividad

NX - hivac es un microscopio de fuerza atómica de alto rendimiento de precisión global * y uno de los microscopios de fuerza atómica * simples y convenientes para el análisis de fallas. ParkNX - hivac le ayuda a mejorar su eficiencia de producción y asegurarse de obtener resultados confiables.Circuito cerradoXYY

Z

Escáneres de ejeCon dos escáneres de Deflexión independientes de circuito cerrado XY y eje z, puede estar seguro de la alta precisión del escaneo. El NX - hivac ofrece escaneos de eje XY plano y ortonormal con baja curvatura residual, lo que permite una distancia de movimiento fuera de la superficie inferior a 1 nm a lo largo de todo el rango de escaneo. además, el NX - hivac cuenta con escáneres de eje Z de alta velocidad con un rango de escaneo no lineal de 15 micras por debajo del 0,5%, que permiten mediciones precisas de dos y tres dígitos sin postprocesamiento de software.Bajo ruido

XYZ

24Sensor de posición del eje

El NX - hivac tiene una función detector de eje Z de bajo ruido superior en la industria de microscopía de fuerza atómica park, que puede medir con precisión la morfología de la muestra, mientras que el escaneo de circuito cerrado del eje XY de bajo ruido reduce el intervalo de escaneo delantero y trasero al 0,15% del rango de escaneo.