Espectrómetro xuv integrado nanolight / analizador de manchas

　　Introducción del producto

● caracterización del punto de luz in situ en el camino de luz del eje lateral

● espectrómetros y Analizadores de haz

● cobertura de longitud de onda de 10 a 80 nm

● integración rápida y sencilla

● equipo multifuncional compacto

Para el muestreo periódico in situ de haces xuv, nanolight es un instrumento de caracterización completo. Nanolight integra las funciones del espectrómetro xuv y el analizador de haz xuv, lo que permite recuperar completamente el desvío del haz. Se puede realizar el cambio entre varios modos de trabajo de manera rápida y automática.

Con su estructura compacta de 16 x 17 cm cuadrados, nanolight es adecuada para configuraciones experimentales estrechas y es una solución de transformación perfecta.

Nanolight puede registrar simultáneamente un rango de longitud de onda extremadamente amplio de 10 - 80 nm, y su unidad de inserción de filtro permite el uso de filtros metálicos para la selección y calibración.

Hasta el 20% de los detectores MCP con eficiencia de rejilla de espectro completo y sensibilidad ajustable hacen que el espectrómetro tenga un gran rango dinámico.

¡¡ hay una versión personalizada de nanolight en la cavidad para elegir!

　　Parámetros técnicos:

Eficiencia de la rejilla:

Aplicación

Fuente de ondas armónicas de alto orden

Asek Science

El láser fuerte interactúa con la materia

Láser de electrones libres