Microscopio electrónico de mesa Hitachi tm4000 / tm4000plus

NegociableActualización en07/10

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Detalles del producto

Introducción de productos de microscopía electrónica de escritorio Hitachi:

El sistema único de bajo vacío de la microscopía electrónica de barrido Hitachi tm4000 permite observar rápidamente las muestras sin ningún tratamiento. Tm4000 optimiza tres modos de observación a diferentes tensiones de 5kv, 10kv y 15kv, cada uno de los cuales tiene cuatro marchas de corriente ajustables y está equipado con un detector de retrodispersión de cuatro segmentos, que puede recoger información de imagen en cuatro direcciones diferentes y realizar imágenes de varios modos de la muestra. Tiene una nueva función de navegación Sem - map, y al mismo tiempo, las imágenes de microscopía electrónica se pueden exportar en forma de informe. Equipado con un gran almacén de muestras, puede acomodar un diámetro máximo de muestra de 80 mm y un espesor de 50 mm.

Tm4000plus es una sonda electrónica secundaria de bajo vacío de alta sensibilidad uvd añadida a tm4000, que tiene una buena calidad de imagen en un ambiente de bajo vacío. Tm4000plus puede superponer imágenes electrónicas secundarias e imágenes electrónicas de dispersión posterior y mostrarlas en tiempo real para obtener la mayor cantidad de información de muestra. Las opciones son ricas en accesorios y tienen muchas funciones adicionales.

Parámetros principales:

1. condiciones de observación: 5kv / 10kv / 15kv (todos ajustables en cuatro marchas), EDX

2. ampliación: 10 × – 100.000 ×

3. modo de observación: conductor (tm4000plus), modo estándar, eliminación del modo de carga

4. detector: detector de retrodispersión de 4 segmentos, detector de electrones secundarios de bajo vacío (tm4000plus)

Alcance del servicio:

Proyecto de prueba Test Item	Alcance del servicio Scope
Observación de la morfología microscópica	Observar y analizar el área designada y la morfología designada de la muestra de acuerdo con los requisitos del cliente, y la ampliación es menor.10.000Veces; No se pueden probar líquidos y sustancias volátiles
Análisis de elementos	Alcance de la medición/.Precisión: Li3~Cf98 ámbito de aplicación: polímeros, metales, minerales, polvos, etc.; Semicuantitativo cualitativo; No se pueden probar líquidos y sustancias volátiles
Análisis de sección	1. Para las muestras rotas, se observó con microscopía óptica y microscopía electrónica de barrido 2. Juzga principalmente el modo de fractura(Resiliencia y fragilidad(...), fuente de la grieta, dirección de extensión, etc. 3. El informe contiene imágenes de la fractura y resultados del análisis, pero no se puede juzgar la causa de la fractura.
Análisis de falla de cuerpos extraños	Análisis de productos de corrosión metálica Análisis cualitativo de los precipitados de los depósitos metálicos Análisis de cuerpos extraños contaminados por medios
Análisis cualitativo del espesor y la composición del recubrimiento	Para parte de la galvanoplastia al vacío0.8μmEl espesor de la capa inferior se realizaSEMPrueba de espesor con resolución máxima0.01μm; y análisis de la composición de escaneo de la línea de recubrimiento multicapa

Área de aplicación:

Ciencias de la vida

Ciencia de los materiales

Química

Fabricación electrónica

Industria alimentaria

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