Microscopio electrónico de barrido Hitachi S - 3700n

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Microscopio electrónico de barrido Hitachi S - 3700n

Detalles del producto

Introducción del producto
El microscopio electrónico de barrido (sem) se ha extendido hoy en día a un gran número de unidades empresariales, no solo en el campo de la investigación académica, sino también en todos los ámbitos de la vida, lo que corresponde a esta tendencia, y los tipos de muestras que los usuarios necesitan observar y analizar también se han ampliado. El desarrollo del S - 3700n tiene plenamente en cuenta las necesidades de la amplia gama de aplicaciones diversificadas mencionadas anteriormente, y la configuración estándar de este producto incluye un detector electrónico secundario, un detector electrónico de retrodispersión dividida de cinco segmentos (bse) y un modo de presión variable (vp).
Esto hace que la mayoría de las observaciones de muestras puedan eliminar la pulverización metálica necesaria para la microscopía electrónica de barrido tradicional en el pasado y observar directamente las muestras acuosas en estado natural.
El S - 3700n tiene una enorme sala de muestras con capacidad para muestras de hasta 300 mm de diámetro y 110 mm de altura. La Sala de muestras está equipada con una variedad de puertos de accesorios para adaptarse a las necesidades de aplicación extremadamente amplias de la microscopía electrónica en la actualidad. estos paquetes de accesorios edx, wdx, ebsd, dispositivos de monitoreo de la Sala de muestras, mesas frías, etc. La versatilidad y la configuración flexible del sistema de este producto pueden satisfacer bien sus necesidades actuales y futuras.
Características del producto
La Cámara de muestras extra grande puede cargar muestras con un diámetro máximo de 300 mm, y también puede instalar accesorios como edx / wdx / ebsd al mismo tiempo. Puede transportar muestras de hasta 110 mm de altura.
Las funciones de control del motor de la Mesa de muestras, como la inclinación del Centro superior, la rotación, el sistema de navegación por imágenes, el seguimiento de la Mesa de muestras, el almacenamiento de trayectoria y el reinicio del centro, están disponibles.
El S - 4800, el su - 70 y el S - 3400n tienen un diseño Gui fácil de usar, lo que permite a los operadores operar con un simple entrenamiento.
El sistema de visualización tiene un rendimiento excelente, como pantalla completa, sin parpadeo, píxeles altos y visualización de imágenes en tiempo real, y también puede mezclar señales en tiempo real y mostrar simultáneamente información de muestra diferente observada por dos detectores diferentes.
El modo de presión variable no requiere pulverización metálica, y las muestras no conductoras se pueden observar directamente.
El detector electrónico de retrodispersión de semiconductores de alta sensibilidad puede funcionar en modo de escaneo rápido, lo que hace que sea más fácil y conveniente encontrar áreas de interés en muestras de gran tamaño.
El estándar está equipado con Bombas moleculares de turbina (tmp), cuyas condiciones de vacío limpias y secas minimizan la contaminación de las muestras. A diferencia del microscopio electrónico de escaneo de bomba de difusión tradicional, este producto no requiere una mayor potencia de calentamiento o tanque de agua circulante, lo que lo convierte en un microscopio electrónico de escaneo de ahorro de energía y ecológico.

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