Difractómetro de rayos X multifuncional combinado al - y3500

Difractómetro de rayos X multifuncional combinado al - y3500

Uno、 Descripción básica del equipo

Nueva gama altaEl difractómetro de rayos X al - y3500, un difractor de rayos X nacional de alto rendimiento y alta precisión en China hoy en día, es el proyecto de revelación de la Comisión Nacional de desarrollo y reforma. el instrumento utiliza tecnología central avanzada para realizar análisis cualitativos y cuantitativos precisos de muestras poliméricas metálicas y no metálicas. se utiliza principalmente en el análisis cualitativo o cuantitativo de muestras, análisis de estructura cristalina, análisis de estructura de materiales, determinación de estrés macro o micro, determinación de tamaño cristalino, determinación de tamaño cristalino, determinación de tamaño cristalino, determinación de cristalidad, etc., por lo que es ampliamente utilizado en Ciencias de materiales, física, química, química, metalurgia, minerales, medicamentos, materiales de construcción, cerámica y muchas otras disciplinas e industrias.

Puede realizar análisis cualitativos, cuantitativos y de estructura cristalina de muestras metálicas y no metálicas con precisión.Después de configurar los accesorios correspondientes, se puede utilizar para estudiar más a fondo el impacto de las altas y bajas temperaturas en la estructura del material; Análisis estructural de muestras de película delgada, textura de materiales metálicos, medición de esfuerzo, etc.

El instrumento debe fabricarse con la tecnología más avanzada actual, y la precisión y precisión del ángulo del medidor de ángulo deben alcanzar el nivel avanzado actual del mundo. La fuente de luz y el detector pueden funcionar de manera estable durante mucho tiempo, lo que garantiza que la medición de la posición, la forma y la intensidad del pico de difracción sea precisa y precisa. Se realiza un análisis de la estructura de la fase física, que incluye: contenido de la fase física, juicio del tamaño del grano, cristalinidad, contenido de austenita, determinación de la célula cristalina, cálculo del estrés de segundo tipo, indexación de líneas de difracción, análisis de la estructura de la fase física, etc. Análisis de materiales de película delgada, análisis de tamaño de partícula de ángulo pequeño, etc. Los instrumentos incluyen alta estabilidadGenerador de rayos x, goniómetro de alta precisión,ParpadeoDetector (o detector unidimensional), software de procesamiento de datos, software de aplicación relacionado, etc.

Dos、 Características del instrumento

● Alta estabilidadFuente de rayos x: el instrumento utiliza un generador de rayos X de Estado sólido, lo que mejora en gran medida la estabilidad de los resultados de medición del difractómetro;

● LongevidadTubo de rayos x: tubo de rayos X cerámico, con buena disipación de calor, alta potencia de funcionamiento (40kv × 40ma),()50 kV x 40 mA)Características de larga vida útil;

● Medidor de ángulo de alta precisión: impulsado por el ángulo de difracciónPaso a pasoImpulsado por motor+ tecnología de control de codificación óptica, con posicionamiento preciso y alta precisión de medición; El diseño oculto del medidor de ángulo hace que el rendimiento del instrumento sea más limpio, hermoso y generoso; Dentro del rango de medición del ángulo de difamación, la lineal del ángulo de difamación es inferior a 0,02 °;