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XPloreVista 1000 4D

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Naturaleza del fabricante
Productores
Categoría de producto
Lugar de origen
Descripción general
XPloreVista 1000 4D 2024/05/28 XPloreVista 1000 4D Es una tomografía computarizada in situ fuera de línea de aterrizaje de nivel básico, que puede llevar muestras más grandes y restaurar más condiciones de trabajo in situ en comparación con el escritorio. En comparación con las tomografías computarizadas de mayor potencia, no requiere precios altos y campos vacíos. Tanto en términos de precio como de valor, le hace feliz. El entorno in situ es más amplio estándar con dispositivos in situ de acoplamiento térmico de - 100 ° C a 1200 ° C + 5 kN para simular más tipos de mecánica con un tamaño máximo de muestra de 400 mm x 400 mm con una capacidad máxima de carga de 20 kg de muestras de detección por lotes. las muestras de baja y media densidad son adecuadas para fuentes de rayos cerradas sin restricciones de mantenimiento. se puede ampliar el potencial de imágenes de caracterización de alta calidad. varias fuentes de focos microfocales pueden elegir una resolución espacial máxima de 2 micras / 500 nm de imágenes de doble contraste de fase.
Detalles del producto

Xplorevista 1000 4D es una tomografía computarizada in situ fuera de línea de aterrizaje de nivel básico, que puede llevar muestras más grandes y restaurar más condiciones de trabajo in situ en comparación con el escritorio. En comparación con las tomografías computarizadas de mayor potencia, no requiere precios altos y campos vacíos. Tanto en términos de precio como de valor, le hace feliz.


El entorno in situ es más amplio

  • Estándar-100Grados Celsius a1200Grados Celsius+5 kN

  • Dispositivo in situ de acoplamiento térmico

  • Simular más tipos de mecánica


Espacio de muestra abundante

  • Tamaño máximo de la muestra400 mm X 400 mm

  • Carga máxima20 kg

  • Se pueden detectar muestras por lotes


Relación calidad - precio con funciones completas

  • Se aplican muestras de baja y media densidad.

  • La fuente de rayos cerrada no necesita mantenimiento

  • Menos restricciones y gran potencial de expansión

Imágenes de caracterización de alta calidad

  • Múltiples fuentes de microcentro son opcionales

  • Máximo2μm/500nmResolución espacial

  • Absorción/.Imagen de doble contraste de fase


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