Conductividad térmica láser LFA 457 microplash^®

NETZSCH LFA 457 MicroFlash^® Representa los últimos avances en la tecnología contemporánea de medición de Flash láser. El instrumento es de mesa, con un rango de temperatura de - 125. ...... 1100 ° c. para cubrir este rango de temperatura se proporcionan dos cuerpos de horno que se pueden cambiar libremente.

La nueva tecnología de sensores infrarrojos utilizada por el sistema permite al usuario medir incluso la curva de aumento de temperatura en la espalda de la muestra a bajas temperaturas de - 125 ° c.

El instrumento puede medir varias muestras más pequeñas en un solo calentamiento con un cambiador automático de muestras incorporado o individualmente muestras más grandes (diámetro máximo de 25,4 mm).

El sistema de sellado al vacío permite medir el instrumento en una variedad de atmósferas opcionales para el usuario.

La disposición vertical del soporte de la muestra, el cuerpo del horno y el detector facilita la colocación y sustitución de la muestra, al tiempo que permite que la señal de detección tenga la mejor relación señal - ruido.

La LFA 457 es el sistema LFA más potente y flexible, adecuado para la caracterización de materiales convencionales y nuevos materiales de alto rendimiento en diversos campos, incluida la fabricación de automóviles, la tecnología aeroespacial y energética.

Microflash LFA 457^® - parámetros técnicos