Microscopio electrónico de barrido de alta tecnología Hitachi flexible Sem 1000

Hitachi High - Tech lanzó un nuevo microscopio electrónico de barrido, flexisem 1000, en todo el mundo el 15 de abril de 2016. El producto tiene una estructura compacta y una pequeña superficie, pero la resolución no es inferior a la de un gran microscopio electrónico, mientras que la operación es extremadamente simple y se puede operar casi sin entrenamiento. Diseño compacto con una resolución de 4 nm.
El microscopio electrónico de barrido puede realizar observaciones de alta potencia y análisis de elementos de alta precisión en la superficie de los materiales, y tiene una amplia gama de aplicaciones en nanotecnología, Ciencias de la vida, diseño de productos, investigación y desarrollo y análisis de fallas. En los últimos años, la demanda de microscopía electrónica de barrido para observar la estructura fina de la superficie y el análisis de elementos ha aumentado, y cada vez más usuarios esperan utilizar microscopía electrónica de barrido en espacios limitados como líneas de producción, líneas de inspección de garantía de calidad y áreas de oficinas. Por lo tanto, el microscopio electrónico de barrido de pequeño tamaño, fácil de operar y alta resolución ha atraído mucha atención. El host flexible Sem 1000 tiene 450 mm de ancho y 640 mm de largo, un 52% menos en volumen, un 45% menos en peso y un 50% menos en consumo de energía que el modelo su1510, y está equipado con una interfaz de alimentación estandarizada. El motor principal y la unidad de suministro de energía se pueden separar, y la instalación es muy flexible.
El flexible Sem 1000 utiliza un sistema óptico electrónico de último diseño y un detector de alta fiabilidad y sensibilidad, con una resolución de hasta 4 nm. el flexible Sem 1000 tiene una variedad de funciones de automatización, fácil de operar y permite tomar imágenes de alta calidad rápidamente incluso por primera vez. Además, la función de navegación recién desarrollada "sem map" puede navegar con varias imágenes ópticas o fotos de microscopía electrónica, y con un solo clic se puede cambiar rápidamente y con precisión a los campos de visión de alta potencia de interés.

Características:

A. a través de detectores de electrones secundarios de alta sensibilidad, detectores de retrodispersión, detectores de bajo vacío (urvd)^{* 2}), lograr la observación de imágenes de alta calidad a baja tensión de aceleración / bajo vacío

B. la operación es simple y fácil, incluso los novatos pueden tomar imágenes de alta calidad.

C. la función de navegación recién desarrollada "sem map" facilita el bloqueo rápido de la visión

Gran ventana (30 mm)²) Sistema de espectro de energía sdd, fácil de analizar rápidamente la composición de los elementos^{* 2}

* 1 al configurar en el escritorio, separe el host y la Caja de energía

* 2 selección

Proyecto		Contenido
Energía de descomposición* 3		4,0 nm @ 20 kV (se: modo de alto vacío) 15,0 nm @ 1 Kv (se: modo de alto vacío) 5,0 nm @ 20 kV (bse: modo de bajo vacío)
Tensión de aceleración		0.3 kV ～ 20 kV
Ampliación		6 × ~ ~ 300000 × (multiplicación de negativos) 16 × ~ ~ 800000 × (muestra la multiplicación)
Modo de bajo vacío		Rango de vacío: 6 a 100 pa
Pistola electrónica		Alambre de tungsteno de alineación previa
Mesa de muestras		Mesa de motor automática de 3 Ejes X：0 ～ 40 mm, Y：0 ～ 50 mm, Z：5 ～ 15 mm R: 360 °, t: - 15 ° ~ + 90 °
Tamaño máximo de la muestra		80 mm de diámetro
Altura máxima de la muestra		40 mm
Tamaño		Host: 450 (w) x 640 (d) x 670 (h) mm Unidad de alimentación: 450 (w) x 640 (d) x 450 (h) mm
Selección de detectores		Detector de electrones secundarios de alta sensibilidad y bajo vacío (uvd) Detector de rayos X descentralizado de energía (eds)