Productos de la serie sigma de microscopía electrónica de barrido de emisiones de campo Zeiss en Alemania - huapu GM

Detección flexible, flujo de trabajo de 4 pasos, rendimiento de análisis avanzado

Combinando el rendimiento analítico avanzado con la tecnología de escaneo de emisiones de campo, se utilizan elementos ópticos electrónicos Gemini maduros. Varios detectores son opcionales: para imágenes de partículas, superficies o nanoestructuras. El flujo de trabajo semiautomático de cuatro pasos de SIGMA ahorra mucho tiempo: establece los pasos de imagen y análisis para mejorar la eficiencia.

Detección flexible para imágenes claras

• Utilice la detección avanzada para personalizar el Sigma para sus necesidades y caracterizar todas las muestras.
  

• Se utiliza un doble detector in - Lens para obtener información sobre la morfología y la composición.
  

• Utilizando la nueva generación de detectores secundarios, se obtienen hasta el 50% de las imágenes de señal. Utilizando el innovador C2D y el detector de presión variable de Sigma en modo de presión variable, se obtienen imágenes agudas de hasta el 85% de contraste en entornos de bajo vacío.
  

Automatizar y acelerar el flujo de trabajo

• El flujo de trabajo de 4 pasos le permite controlar todas las funciones de sigma. En un entorno multiusuario, desde la formación rápida de imágenes y ahorros, primero se navegan las muestras y luego se establecen las condiciones de imagen.

• Primero, primero se navega la muestra y luego se establecen las condiciones de imagen.
  

• A continuación, se optimizan las áreas de interés de la muestra y se recogen automáticamente las imágenes. Finalmente, utilice el último paso del flujo de trabajo para visualizar los resultados.
  

Microscopio analítico avanzado

• Combinando el microscopio electrónico de barrido con el análisis básico: el detector geométrico de retrodispersión de primera clase Sigma mejora considerablemente el rendimiento del análisis, especialmente las muestras sensibles al haz de electrones.

• Los datos de análisis se obtienen en la mitad del haz de detección y el doble de velocidad.

• Beneficiándose de una distancia de trabajo de análisis corta de 8,5 mm y un ángulo de 35 °, se obtuvieron resultados de análisis completos y sin sombra.
  

Basado en la tecnología Gemini madura

• El diseño de la lente Gemini combina la influencia del campo eléctrico y el campo magnético en las propiedades ópticas y reduce la influencia del campo en la muestra a un nivel más bajo. Esto permite obtener excelentes resultados incluso en la imagen de muestras magnéticas.
  

• La detección de Gemini in - Lens garantiza la eficiencia de la detección de señales, reduciendo el tiempo de imagen al mismo tiempo a través de elementos de detección secundaria (se) y retrodispersión (bse).
  

• La tecnología de acelerador de haz de electrones Gemini garantiza un pequeño tamaño del detector y una alta relación señal - ruido.

Detección flexible para imágenes claras

• Todas las muestras se caracterizaron por nuevas técnicas de detección.
  

• En modo de alto vacío, se utilizan innovadores detectores etse e in - Lens para obtener información sobre morfología y alta resolución.
  

• En modo de presión variable, se utilizan electrones secundarios de presión variable y detectores C2D para obtener imágenes agudas.
  

• El detector estem se utiliza para generar imágenes transmitidas de alta velocidad.
  

• El análisis de componentes se realiza utilizando detectores BSD o yag.

Accesorios

SmartEDX

Le trae soluciones integradas de análisis de espectro de energía

Si la tecnología de imagen Sem por sí sola no puede comprender completamente los componentes o muestras, los investigadores necesitan usar un espectrómetro de energía (eds) en el SEM para el análisis microscópico. A través de soluciones de espectro de energía optimizadas para aplicaciones de bajo voltaje, puede obtener información sobre la distribución espacial de la composición química de los elementos. Gracias a:

• Se optimizan las aplicaciones convencionales de microanálisis y, debido a la excelente transmisión de la ventana de nitruro de silicio, se pueden detectar rayos X de baja energía de elementos ligeros.

• La interfaz de usuario gráfica guiada por el flujo de trabajo mejora enormemente la facilidad de uso y la repetibilidad en entornos multiusuario.

• Servicio completo y soporte del sistema, con ingenieros Zeiss que le brindan un servicio de ventanilla única para la instalación, mantenimiento preventivo y garantía.

Sistema combinado de imagen Raman y microscopía electrónica de barrido

Imagen Raman completamente integrada

Agregue el espectro Raman y los resultados de la imagen a sus datos para obtener información de caracterización más rica del material. Al ampliar el Zeiss Sigma 300 para que tenga una función de imagen Raman confocal, puede obtener información única de huellas dactilares químicas en la muestra, identificando así sus ingredientes.

• Identificar información sobre moléculas y estructuras cristalinas

• Se puede realizar un análisis 3D y asociar imágenes sem, imágenes de escaneo de superficie Raman y datos EDS cuando sea necesario.

• El Rise totalmente integrado le permite experimentar las ventajas que aportan los sistemas avanzados de Sem y raman.