CT-Compact nano

NegociableActualización en02/22

modelo

Naturaleza del fabricante: Productores

Categoría de producto

Lugar de origen

Consulta en línea

Descripción general

CT-COMPACT nano 2018/10/11 CT-COMPACT nano， La resolución ultra alta puede alcanzar el nivel de submicron, y la potente funcionalidad puede proporcionar soluciones in situ / 4d. En comparación con la tomografía computarizada tradicional, la nanoresolución CT - compact Nano no está limitada por el tamaño de la muestra, logrando una resolución súper alta de 0,4 micras, que es adecuada para Ciencias de materiales, semiconductores, petróleo, gas natural, Ciencias de la vida y otros campos. CT - compact Nano opera con objetivos complejos y fáciles de cambiar. La arquitectura del sistema sin emparejamiento, combinada con el diseño típico de Procon X - ray, le proporciona un sistema conveniente y eficiente. Los resultados de escaneo de alta calidad se logran a través de una resolución submicron y un excelente contraste. Características · fácil de operar · medición sin contacto · cantidad de interés - escaneo · control de calidad independiente del material · reconocimiento de defectos (agujeros, grietas...) · diferentes algoritmos de reconstrucción filtran la proyección inversa, álgebras, estadísticas · circular de múltiples trayectorias de escaneo, helix, planas, etc. · expansión del campo de visión de muchas trayectorias de escaneo · escala de volumen (hounsfield) · supresión de artefactos circulares y algoritmos de reducción de ruido · corrección de endurecimiento de haz y reducción de artefactos metálicos · corrección de temblores para compensación de deriva · opciones de contraste de fase y campo oscuro · MATLAB / Python / LabVIEW para guiones......

Detalles del producto

CT-COMPACT nano， La resolución ultra alta puede alcanzar el nivel de submicron, y la potente funcionalidad puede proporcionar soluciones in situ / 4d. En comparación con la tomografía computarizada tradicional, la nanoresolución CT - compact Nano no está limitada por el tamaño de la muestra, logrando una resolución súper alta de 0,4 micras, que es adecuada para Ciencias de materiales, semiconductores, petróleo, gas natural, Ciencias de la vida y otros campos.

CT-COMPACT nanoFunciona con objetivos complejos y fáciles de cambiar. Arquitectura del sistema sin emparejamiento y típicaProCon X-RayLa combinación de diseño le proporciona un sistema conveniente y eficiente. Los resultados de escaneo de alta calidad se logran a través de una resolución submicron y un excelente contraste.

Características

· fácil de operar

· medición sin contacto

· cantidad de interés- -Escaneo

· El control de calidad es independiente del material

· identificación de defectos (huecos, grietas)......(...)

· diferentes algoritmos de reconstrucción filtran la proyección inversa, el álgebra, las estadísticas

· múltiples trayectorias de escaneoCircular，Helix，PlanarEspera un momento.

· ampliación del campo de visión de muchas trayectorias escaneadas

· ampliación de volumen..Hounsfield(...)

· algoritmos de supresión y reducción de ruido de artefactos circulares

· corrección del endurecimiento del haz y reducción de artefactos metálicos