Muestra estándar de calibración de alta resolución de 70 nm (forafm, sem, Auger y fib)

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Descripción general

Muestra estándar de calibración de alta resolución de 70 nm (para afm, sem, Auger y fib)

Detalles del producto

Rayas70 nmDistancia, disposición unidimensional, precisa a ±0,25 nm. Hay dos categorías: certificado y no certificado. El espaciamiento con certificado requiere referirse a las cifras reales en el certificado. Las rayas holográficas precisas son adecuadas para microscopios de ultra alta resolución..25kx-1000kx(calibración precisa en la dirección horizontal, así como calibración precisa del instrumento a escala nanométrica, etc. Tiene alta estabilidad y alta adaptabilidad.

Tamaño de las pastillas de silicio:4×3×0,5 mm, fabricación de dióxido de silicio patrón (ancho de la cresta)35 nm, Alto35 nmEste parámetro no está calibrado).

Hay dos modelos de productos proporcionados:Modelo 70-1DyModelo 70-1DUTCEntre ellosModelo 70-1DMuestra estándar de calibración,Con certificación del fabricante,No se puede rastrear la fuente;Modelo 70-1DUTCMuestra estándar de calibración,certificación,Trazabilidad,Presentación de certificados..PTB, una contraparte alemana del NIST).

Información del pedido:

Número de artículo	nombre del producto	especificación
80127-1D	Modelo 70-1D, estándar de calibración, sin montar	un
80127-1D-X	Lo mismo ocurre, se puede proporcionar una mesa de muestras con clavos; O oferta exclusivaAFMDe..15 mmacero inoxidabledisco); O designar una mesa de muestras	un
80127-1DC	Modelo 70-1DUTCCon certificado,Desmontado	un
80127-1DC-X	Lo mismo ocurre, se puede proporcionar una mesa de muestras con clavos; O oferta exclusivaAFMDe..15 mmacero inoxidabledisco); O designar una mesa de muestras	un

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